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[行業(yè)新聞] 交聯(lián)聚乙烯絕緣電纜局部放電試驗影響因素
P:2013-02-18 15:55:08
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1）局部放電試驗時的干擾問題
干擾的來源可分為兩大類：一是與電源電壓有關(guān)的干擾，二是與電源電壓無關(guān)的干擾。與電源電壓無關(guān)的干擾相對比較廣泛，但一般影響較小，主要指無線電廣播、臨近電路中開關(guān)動作、整流電機(jī)、高壓試驗場中的沖擊發(fā)生器放電等；而與電源電壓有關(guān)的干擾通常隨試驗電壓的增加而增加，如高壓測試驗變壓器中的局部放電、高壓連接線及屏蔽罩上的電暈放電、周圍金屬物接地不良而產(chǎn)生的火花等。對于與電源電壓有關(guān)的干擾，一般可以從試驗回路升至試驗電壓時測量儀器中的讀數(shù)檢測出來，試驗時試品可采用在試驗電壓下不放電的電容器（或其他的電器）代替，或試品不與高壓線路連接。
2）電線電纜本體缺陷和原材料的問題
主要是絕緣中存在缺陷，如絕緣中有氣孔、雜質(zhì)、焦粒等，或內(nèi)外屏蔽擦傷都會造成局部放電；在生產(chǎn)過程中絞合導(dǎo)體中進(jìn)水、導(dǎo)體不清潔或絕緣、外屏蔽料受潮等情況下，導(dǎo)致在充水微孔中形成局部放電；另外如果絕緣半導(dǎo)電屏蔽料的電阻率不合格，即當(dāng)材料的電阻率遠(yuǎn)大于標(biāo)準(zhǔn)要求值時，就失去了電磁場屏蔽的作用，將在電纜的端頭也會產(chǎn)生局部放電。
3）生產(chǎn)工藝的問題
生產(chǎn)工藝的問題相對較多，比如電纜半導(dǎo)電屏蔽上的焦燒和絕緣雜質(zhì)。產(chǎn)生焦燒的主要原因是主濾網(wǎng)破裂，或者濾網(wǎng)的目數(shù)選擇錯誤。另外，如果內(nèi)外半導(dǎo)電屏蔽和絕緣交叉成犬牙狀，這種產(chǎn)品的局放是不會合格的。因此在半導(dǎo)電料擠出時，應(yīng)使半導(dǎo)電料的物流保持一定的拉伸狀態(tài)，使絕緣和半導(dǎo)電屏蔽的截面光滑接觸。
4）局放試驗設(shè)備及電纜端頭的處理
目前大多數(shù)電纜生產(chǎn)廠家均采用懸掛式油杯型試驗終端來進(jìn)行局部放電試驗，因此對于絕緣油的純度及油杯表面的光潔度應(yīng)有嚴(yán)格地要求。對電纜端頭的處理應(yīng)無尖端，測試系統(tǒng)的地線引線應(yīng)接地良好。另外在試驗時油杯中的絕緣油應(yīng)緊浸沫電纜絕緣屏蔽的切口處，以消除表面電流的產(chǎn)生及電場的集中，否則即使很低的電壓也會導(dǎo)致其放電，從而產(chǎn)生嚴(yán)重的測量誤差。
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