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為什么高頻線要測試眼圖

為什么高頻線要測試眼圖

為了實(shí)現(xiàn)數(shù)位家庭夢想，數(shù)位產(chǎn)品和可攜式產(chǎn)品持續(xù)領(lǐng)導(dǎo)潮流，各種關(guān)鍵技朮與應(yīng)用高度結(jié)合，產(chǎn)品設(shè)計(jì)走向高速、簡單與個(gè)性化。有線、無線信號(hào)傳輸速度日益提高，產(chǎn)品設(shè)計(jì)者將必須面對(duì)更多信號(hào)完整性(Signal Integrity)與量測精準(zhǔn)度的挑戰(zhàn)。高速的運(yùn)算速度及高傳輸量的需求，使產(chǎn)品設(shè)計(jì)中的容許誤差降低，因而以往低頻設(shè)計(jì)所忽略的問題逐漸浮現(xiàn)：如信號(hào)上升/下降或周期時(shí)間(Rise Time/Duty Cycle)縮短、信號(hào)振幅降低(Low Voltage)、輻射信號(hào)所造成的串音干擾(Cross talk)等。這些影響信號(hào)品質(zhì)的問題透過眼圖加以量化和分析，借以判定傳輸信號(hào)品質(zhì)優(yōu)劣及信號(hào)時(shí)序偏移量成為產(chǎn)品相容性測試的重要課題。信號(hào)品質(zhì)的分析逐漸已由晶片商、成品制造者拓展至連接器產(chǎn)業(yè).伴隨2005年國際消費(fèi)性電子大展(International Consumer Electronic Show) 順利落幕，由HDTV興起及寬點(diǎn)節(jié)點(diǎn)普及引發(fā)數(shù)位家庭(Digital Home)的連串效應(yīng)，致使數(shù)位產(chǎn)品與可攜式產(chǎn)品持續(xù)領(lǐng)導(dǎo)潮流，畜產(chǎn)品設(shè)計(jì)走向高速化、簡單化與個(gè)性化。為了實(shí)現(xiàn)數(shù)位家庭夢想，關(guān)鍵技朮與應(yīng)用高度結(jié)合，有線與無線信號(hào)傳輸速度日益提高，產(chǎn)品設(shè)計(jì)者將必須面對(duì)更多信號(hào)完整(Signal Integrity)與量測精準(zhǔn)度的挑戰(zhàn)。

     為了維持視聽覺效果整體流暢度與及時(shí)性，達(dá)到身臨其境的的視聽感受，則要晶片組的運(yùn)算和各媒介的傳輸速度必須更加快速，如Intel日前正式發(fā)表下一代的處理器平臺(tái)，代號(hào)“Sonoma”，時(shí)間脈沖(Clock)速度最高可達(dá)2.13GHz。當(dāng)然，各I/O介面的傳輸速度亦同時(shí)向上攀升，如Serial-ATA II、PCI Express(3GIO)、Infiniband(無限帶寬)和Giga以太網(wǎng)路等。高速的運(yùn)算速度及高傳輸量的需求，使產(chǎn)品設(shè)計(jì)中的容許誤差降低，因而以往低頻設(shè)計(jì)所忽略的問題逐漸浮現(xiàn)。如果采用信號(hào)上升/下降或周期時(shí)間(Rise Time/Duty Cycle)縮短、信號(hào)振幅降低(Low Voltage)等改變雖然可以提高傳輸速率，相對(duì)地也造成接收端地辨識(shí)率降低，位元錯(cuò)誤率(BER)提高。此外電子商品地可攜化，電路板中信號(hào)線間距越來越近，輻射信號(hào)造成彼此間串音干擾(Crosstalk)日益嚴(yán)重。以上種種問題，無論是振幅的降低，作用信號(hào)周期時(shí)間變短或是信號(hào)線間的輻射干擾，皆會(huì)造成接收端誤判原始輸入信號(hào)的情況(1被認(rèn)為0，0被認(rèn)為1，或是信號(hào)在傳送時(shí)被視為間置狀態(tài)等等)。

隨著傳輸資料的數(shù)位化與高速化，硬體設(shè)計(jì)技朮直接影響傳輸品質(zhì)的好壞，并且高密度電路板布線模式已成為數(shù)位產(chǎn)品的設(shè)計(jì)基準(zhǔn)，信號(hào)完整性將是產(chǎn)品兼容性測試所關(guān)注的交點(diǎn)，因而眼狀圖測試越發(fā)的重要。由晶片供應(yīng)者、成品制造者已逐漸拓展至連接器產(chǎn)業(yè)，從眼狀圖的分析可以讓設(shè)計(jì)者和生產(chǎn)者知道其產(chǎn)品特性阻抗的匹配性、信號(hào)衰減量、時(shí)序漂移量以及受其它雜訊干擾所造成的影響。

因?yàn)橛嵦?hào)的頻率很高時(shí),如果傳輸路徑(PCB,cable,connector…等)的質(zhì)量不夠好,會(huì)造成訊號(hào)完整性被破壞,訊號(hào)的波形就會(huì)不好,這時(shí)要測試評(píng)估傳輸路徑的質(zhì)量夠不夠好,就要測眼圖。

眼圖的原理是用數(shù)百萬個(gè)訊號(hào)打進(jìn)待測物,再用示波器來接收,并將每個(gè)量到的訊號(hào)重復(fù)迭在一起就成了眼圖.,當(dāng)訊號(hào)很完整時(shí),眼圖的眼睛會(huì)張很開,代表待測物的質(zhì)量很好,但當(dāng)訊號(hào)通過質(zhì)量不好的待測物時(shí),訊號(hào)完整性被破壞,則所得的眼圖會(huì)是比較閉起的,或根本看不到眼睛。

不是很明白，能不能結(jié)合實(shí)際講解一下，謝謝。

隨著傳輸資料的數(shù)位化與高速化，硬體設(shè)計(jì)技朮直接影響傳輸品質(zhì)的好壞，并且高密度電路板布線模式已成為數(shù)位產(chǎn)品的設(shè)計(jì)基準(zhǔn)，信號(hào)完整性將是產(chǎn)品兼容性測試所關(guān)注的交點(diǎn)，因而眼狀圖測試越發(fā)的重要。由晶片供應(yīng)者、成品制造者已逐漸拓展至連接器產(chǎn)業(yè)，從眼狀圖的分析可以讓設(shè)計(jì)者和生產(chǎn)者知道其產(chǎn)品特性阻抗的匹配性、信號(hào)衰減量、時(shí)序漂移量以及受其它雜訊干擾所造成的影響。

因?yàn)橛嵦?hào)的頻率很高時(shí),如果傳輸路徑(PCB,cable,connector…等)的質(zhì)量不夠好,會(huì)造成訊號(hào)完整性被破壞,訊號(hào)的波形就會(huì)不好,這時(shí)要測試評(píng)估傳輸路徑的質(zhì)量夠不夠好,就要測眼圖。

眼圖的原理是用數(shù)百萬個(gè)訊號(hào)打進(jìn)待測物,再用示波器來接收,并將每個(gè)量到的訊號(hào)重復(fù)迭在一起就成了眼圖.,當(dāng)訊號(hào)很完整時(shí),眼圖的眼睛會(huì)張很開,代表待測物的質(zhì)量很好,但當(dāng)訊號(hào)通過質(zhì)量不好的待測物時(shí),訊號(hào)完整性被破壞,則所得的眼圖會(huì)是比較閉起的,或根本看不到眼睛。

太深啦

看不懂啊

不明白吧！技術(shù)的術(shù)語太多了！簡而言之眼圖就是模擬傳輸介質(zhì)在實(shí)際實(shí)用過程中的效果！舉個(gè)例子，就像唱歌比賽一樣，歌詞曲調(diào)，音階音準(zhǔn)要要求很嚴(yán)的話很多人不行！但是只要你記住基本調(diào)能唱下去，錯(cuò)漏幾個(gè)詞什么的都可以通過。這就是眼圖要的結(jié)果！很嚴(yán)格不要求，但是基本的效果你不能跑調(diào)��！