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編織外導(dǎo)體銀層厚度對衰減的影響
下面以RG同軸電纜為例進(jìn)行分析,改變外導(dǎo)體的銀層厚度,變化使用頻率從而計(jì)算出銀層厚度對衰減常數(shù)的影響。
α=【2.61(fεd)∧1/2】/lg【(D+1.5dw)/K1d】×(K2Kρ1/d +KbKρ2/D)+
一、當(dāng)頻率為30MHz
銀層厚度為0.5μm時(shí)
α=0.146796
銀層厚度為1μm時(shí)
α=0.146719
銀層厚度為2μm時(shí)
α=0.146140
二、當(dāng)頻率為200MHz
銀層厚度為0.5μm時(shí)
α=0.382222
銀層厚度為1μm時(shí)
α=0.382020
銀層厚度為2μm時(shí)
α=0.380526
三、、當(dāng)頻率為3000MHz
銀層厚度為0.5μm時(shí)
α=1.538321
銀層厚度為1μm時(shí)
α=1.537547
銀層厚度為2μm時(shí)
α=1.458796
結(jié)論:從上面計(jì)算的三組數(shù)據(jù)可以看出改變外導(dǎo)體的鍍銀厚度,隨著鍍銀層厚度增加,衰減常數(shù)逐漸減小。
