4
High Dip Insertion Loss Due to Periodic Defect Structure in High Speed Transmission Line
Dau-Cyrh Chang *#1 , Hsiao-Bin Liang #2 , Jian-Ren Wang *+3 , Vito Chen # , Jun-Pin Zhang#和 Yo - Sheng Lin &4
*臺(tái)灣東方科技大學(xué),
1 dcchang@mail.oit.edu.tw
#臺(tái)灣樂(lè)榮工業(yè)有限公司
2 barry.liang@lorom.com
+臺(tái)灣元澤大學(xué)通訊工程系
3 s1024838@mail.yzu.edu.tw
&臺(tái)灣國(guó)立暨南大學(xué)電機(jī)工程系
4 stephenlin@ncnu.edu.tw
摘要:由高頻3-D EM模擬器和RF/MMW電路模擬器模擬傳輸線(xiàn)中周期性結(jié)構(gòu)引起的周期性阻抗。從模擬數(shù)據(jù)中可以看出插入損耗的下降趨勢(shì),也稱(chēng)為高速原電纜的吸出(Suck-out)效應(yīng)。為了描述插入損耗的下降趨勢(shì)、吸出效應(yīng),提出了一種簡(jiǎn)化的N段LC集總電路模型,其中包含解釋傳輸線(xiàn)周期性結(jié)構(gòu)的周期性電路元件。在節(jié)數(shù)適當(dāng)?shù)那闆r下,在準(zhǔn)靜態(tài)條件下,集總電路模型由于其周期性結(jié)構(gòu),在高達(dá)幾十GHz的頻率范圍內(nèi)也能產(chǎn)生吸出效應(yīng)。
