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| 各位老大:我有一個非常棘手的問題能否幫助解決一下: 我公司現(xiàn)有一款USB線材,一頭為USB-A公頭,另一頭為MINI-USB五PIN公頭,在電測搖擺時,MINI頭一邊的地線(鐵殼)之間總是出現(xiàn)電性能接觸不良的問題,機器顯示為OPEN,但是解剖后發(fā)現(xiàn)線頭焊接都很良好,鐵殼焊接未出現(xiàn)不良問題,我們也進行了多次的改善,測試的公母頭都出自一家供應商的料,匹配也應該沒有問題呀,但測時,總是出現(xiàn)地線接觸不良,請大家分析一下,能有什么方法解決一下,多謝! |
