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[技術資料] 關于半導電屏蔽層電阻率試驗的研究
P:2009-05-06 11:26:07
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根據(jù)屏蔽層材料的固有特性，屏蔽層材料的電阻與溫度有很大關系，測試過程中電纜屏蔽層溫度的不確定性是導致試驗結果的不確定的重要原因之一。為了能夠定量分析電纜中半導電屏蔽層電阻隨溫度和時間變化的過程，本文分別研究了國內(nèi)外不同半導電屏蔽料生產(chǎn)的電纜樣品屏蔽層電阻與溫度的關系，以及在恒定溫度下（90 ℃）屏蔽層電阻與時間的關系，為完善IEC標準和國家標準中關于半導電屏蔽層電阻率的測試方法奠定基礎。
通過試驗和分析。對電纜半導電屏蔽電阻率試驗提出建議：
1．試驗過程中用熱電偶直接測量電纜屏蔽層的溫度。 2．建議關注電纜屏蔽溫度自室溫升至90 ℃及在90 ℃下恒定 30 min這一段時間的屏蔽．電阻的變化。對試驗結果的選取，建議從嚴要求，取這一段時間的屏蔽電阻的最大值。 3．對屏蔽層的電阻最高點不在90 ℃的電纜，希望半導電材料制造商和電纜制造商共同努力，使電纜的屏蔽層在90℃及以下的溫度范圍內(nèi)都能滿足標準所規(guī)定的要求。 |
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