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[問題求助] 測量鋁箔麥拉鋁層厚度方法？
卓一航: P:2009-10-15 08:29:53
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覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用最廣泛的測厚儀器。
例：DH-0682型兩用涂層測厚儀
儀器由德國生產(chǎn)，集合了磁性測厚儀和渦流測厚儀兩種儀器的功能，可用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。如：
* 鋼鐵上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。
* 鋁、鎂材料上陽極氧化膜的厚度。
* 銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。
* 鋁、銅、金等箔帶材及紙張、塑料膜的厚度。
* 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。
儀器符合國家標準GB/T4956和GB/T4957，可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗及質(zhì)量監(jiān)督檢驗。
儀器特點
* 采用雙功能內(nèi)置式探頭，自動識別鐵基或非鐵基體材料，并選擇相應的測量方式進行精確測量。
* 符合人體工程學設計的雙顯示屏結構，可以在任何測量位置讀取測量數(shù)據(jù)。
* 采用手機菜單式功能選擇方式，操作十分簡便。
* 可設定上下限值，測量結果超出或符合上下限數(shù)值時，儀器會發(fā)出相應的聲音或閃爍燈提示。
* 穩(wěn)定性極高，通常不必校正便可長期使用。
技術規(guī)格
量 程： 0～2000μm
精 度： ±1μm（0～50μm），±2%（50μm～1000μm），±3%（1000μm～2000μm）
重復精度： ±0.5μm（0～100μm），±0.5%（＞100μm）
測量面積： 最小測量面積為直徑φ4mm
重 量： 60g（不含電池）
外形尺寸： 64mm×30m×85mm
電 源： 兩節(jié)5號電池
［卓一航 在 2009-10-15 8:32:32 編輯過］
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