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聽說衰減只能用NA測試,而SKEW只能用TDR測試,不知道對不對?
那位大俠能夠幫我詳解一下NA和TDR是怎么測試的。
請各位大俠賜教!在下在此先行謝過!
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NA可以分別測試輸入端的壓降(Vin)&輸出端接受到得信號的壓降(Vout)&輸出端接收到的反射信號的壓降(Vref),根據(jù)定義
衰減=-20log(Vout/Vin)
RL=-20log(Vre/Vin)
還有串音等等
TDR可以測試阻抗、Delay、Skew、極限眼圖等等
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