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1,2 直流 耐壓 試驗(yàn) 的缺 點(diǎn)
(1)直流耐壓試驗(yàn)不能模擬 XLPE電纜的運(yùn)行工況。
(2)直流耐壓時,會有電子注入到聚合物介質(zhì)內(nèi)部,形成
空間電荷,使該處的電場強(qiáng)度降低,XLPE電纜的半導(dǎo)體凸出
處和污穢點(diǎn)等容易產(chǎn)生空間電荷,從而難以發(fā)現(xiàn)缺陷。同時,
如果外部發(fā)生塵閃絡(luò)或電纜附件擊穿,在已積聚空間電荷的
地點(diǎn) ,由于振蕩,電壓迅速改變?yōu)楫悩O性,該處電場強(qiáng)度顯著
增大,可能損壞絕緣,造成多點(diǎn)擊穿。
(3)XLPE電纜絕緣內(nèi)容易產(chǎn)生水樹枝,在直流電壓下會
迅速轉(zhuǎn)變?yōu)殡姌渲Γ⑿纬煞烹,加速了絕緣劣化。
(4)XLPE電纜在直流電壓下會產(chǎn)生“記憶”效應(yīng),存儲積
累單極性殘余電荷。如果在電纜內(nèi)的直流殘余電荷未完全釋
放之前即投入運(yùn)行,直流偏壓便會疊加在工頻電壓峰值上,使
得電纜上的電壓值超過其額定電壓,從而有可能導(dǎo)致電纜絕
緣擊穿
(5)直流耐壓試驗(yàn)不能有效發(fā)現(xiàn)交流電壓作用下的某些
缺陷,如電纜附件內(nèi)的機(jī)械損傷或應(yīng)力錐放錯等。
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