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電線電纜網(wǎng) > 數(shù)據(jù) 高頻線纜 > USB 3.0 中Differential-to-common-mode conversion含意？（完整版）

USB 3.0 中Differential-to-common-mode conversion含意？ - 無圖版

jakezheng --- 2009-03-21 15:40:13

1

不知道哪位大蝦能給我詳解一下USB 3.0 要求中：Differential-to-common-mode conversion（差分轉(zhuǎn)同模）的具體含意？
wanglitao --- 2009-03-22 13:29:14

2

可以看看

jakezheng --- 2009-03-23 13:45:31

3

這個早就看過了，但還是不知道具體的意義？
jakezheng --- 2009-03-23 15:58:22

4

它和EMI又有什么關(guān)系呢？

leoleeson --- 2009-03-24 02:38:25

5

Differential to Common Mode Conversion主要乃用來測試STP的Insertion Loss Mismatch(衰減不匹配)

當(dāng)一對訊號線(例如為D+與D-)的訊號產(chǎn)生衰減差異或相位(Phase)差異時, SCD21就會變差.此一差異會導(dǎo)致Differential Signal(平衡式訊號)產(chǎn)生所謂的EMI效應(yīng).

要解決此一問題的最基礎(chǔ)理論就是解決STP中的D+/D-的衰減及相位差異.

從生產(chǎn)Cable的角度來說,衰減在低頻段與導(dǎo)體的損耗有關(guān),在高頻段與介質(zhì)損耗有關(guān);至於相位就與絕緣的介電係數(shù)有所關(guān)聯(lián)囉.

希望以上的解釋可以幫助你分析.

另外,當(dāng)你發(fā)現(xiàn)Differential to Common Mode Converion無法PASS(在USB3.0為-20dB)時,通常此時的Cable Intra Pair Skew也會偏大.

www.--litektw.com

Leo Lee

leoleeson --- 2009-03-24 02:46:30

6

Differential to Common Mode Conversion主要乃用來測試STP的Insertion Loss Mismatch(衰減不匹配)

當(dāng)一對訊號線(例如為D+與D-)的訊號產(chǎn)生衰減差異或相位(Phase)差異時, SCD21就會變差.此一差異會導(dǎo)致Differential Signal(平衡式訊號)產(chǎn)生所謂的EMI效應(yīng).

要解決此一問題的最基礎(chǔ)理論就是解決STP中的D+/D-的衰減及相位差異.

從生產(chǎn)Cable的角度來說,衰減在低頻段與導(dǎo)體的損耗有關(guān),在高頻段與介質(zhì)損耗有關(guān);至于相位就與絕緣的介電系數(shù)有所關(guān)聯(lián)囉.

希望以上的解釋可以幫助你分析.

另外,當(dāng)你發(fā)現(xiàn)Differential to Common Mode Converion無法PASS(在USB3.0為-20dB)時,通常此時的Cable Intra Pair Skew也會偏大.

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Leo Lee

jakezheng --- 2009-03-24 08:18:59

7

謝謝你！ 學(xué)習(xí)了。
李小龍 --- 2009-03-24 08:25:10

8

釐科科技的資深老大出現(xiàn)江湖
取個名字難 --- 2009-03-24 09:27:48

9

leoleeson:

Differential to Common Mode Conversion主要乃用來測試STP的Insertion Loss Mismatch(衰減不匹配)

當(dāng)一對訊號線(例如為D+與D-)的訊號產(chǎn)生衰減差異或相位(Phase)差異時, SCD21就會變差.此一差異會導(dǎo)致Differential Signal(平衡式訊號)產(chǎn)生所謂的EMI效應(yīng).

要解決此一問題的最基礎(chǔ)理論就是解決STP中的D+/D-的衰減及相位差異.

從生產(chǎn)Cable的角度來說,衰減在低頻段與導(dǎo)體的損耗有關(guān),在高頻段與介質(zhì)損耗有關(guān);至于相位就與絕緣的介電系數(shù)有所關(guān)聯(lián)囉.

希望以上的解釋可以幫助你分析.

另外,當(dāng)你發(fā)現(xiàn)Differential to Common Mode Converion無法PASS(在USB3.0為-20dB)時,通常此時的Cable Intra Pair Skew也會偏大.

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Leo Lee

很好 很強(qiáng)大�。�！

Cabler --- 2009-03-24 09:55:57

10

高人出現(xiàn)了

jakezheng --- 2009-03-24 17:22:47

11

如果Differential to Common Mode Converion   pass的話，那是不是代表著EMI測試也能通過呢？

不知道有沒有直接的換算關(guān)系？

leoleeson --- 2009-03-24 23:24:31

12

Dear Jakezheng,

在USB3.0 Assembly Differential to Common Mode 雖然Pass,也不能代表系統(tǒng)測試EMI可以完全的PASS.

因為整個EMI測試是整機(jī)含cable測試,所以即時你的Cable Pass規(guī)格上所言的SCD21,但也不能代表說你的Cable可以與任何的系統(tǒng)整合測試EMI完全沒有問題.

但從另一個角度來說,若你的USB3.0 Assembly可以PASS SCD21,已經(jīng)代表你具備相當(dāng)?shù)牡挚鼓芰?

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Leo Lee

jakezheng --- 2009-03-25 19:28:31

13

Thank you ！Leoleeson

EMI和線材的總屏蔽及編織等都有極大的關(guān)系，但Differential to Common Mode參數(shù)好像跟總屏蔽及編織等沒有關(guān)系（不知道您是否認(rèn)同）？

Differential to Common Mode參數(shù)越好，就說明我的產(chǎn)品對外界的輻射或傳導(dǎo)最小（在不考慮屏蔽的情況下）。

Jake

lakehu --- 2009-03-26 09:25:07

14

測試結(jié)果就是為了信號的完整性: 不平衡所帶來的電磁干撓.所以對線的intra skew要求極為嚴(yán)格.頻率越高,所產(chǎn)生的對內(nèi),對外電磁干撓越大.當(dāng)然也影響到串音.另一對UTP-2.0用的將受到極大的串撓.不知各位意見如何?
lianguan --- 2009-03-26 16:10:32

15

有聽說衰減不匹配會對串音影響，對EMI有影響還是第一次聽說，學(xué)習(xí)了．
liangxiao --- 2009-03-27 16:44:20

16

leoleeson:

Dear Jakezheng,

在USB3.0 Assembly Differential to Common Mode 雖然Pass,也不能代表系統(tǒng)測試EMI可以完全的PASS.

因為整個EMI測試是整機(jī)含cable測試,所以即時你的Cable Pass規(guī)格上所言的SCD21,但也不能代表說你的Cable可以與任何的系統(tǒng)整合測試EMI完全沒有問題.

但從另一個角度來說,若你的USB3.0 Assembly可以PASS SCD21,已經(jīng)代表你具備相當(dāng)?shù)牡挚鼓芰?

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Leo Lee

Bizlarry --- 2009-03-28 16:38:16

17

UP
rainy0910 --- 2009-03-30 12:29:15

18

學(xué)習(xí)了。
cnvito --- 2009-03-31 16:21:02

19

差模還是共模的

jakezheng --- 2009-04-02 18:12:48

20

  短訊   搜索   引用   回復(fù)    [在線] POST:2009-3-24 17:22:48    [編輯] [刪除]No.11 

<DIV class=xxxxContent id=deds11 style="OVERFLOW: auto; WIDTH: 100%">

如果Differential to Common Mode Converion   pass的話，那是不是代表著EMI測試也能通過呢？

不知道有沒有直接的換算關(guān)系？

</DIV>

jakezheng --- 2009-04-06 12:01:52

21

Thank you ！Leoleeson

EMI和線材的總屏蔽及編織等都有極大的關(guān)系，但Differential to Common Mode參數(shù)好像跟總屏蔽及編織等沒有關(guān)系（不知道您是否認(rèn)同）？

Differential to Common Mode參數(shù)越好，就說明我的產(chǎn)品對外界的輻射或傳導(dǎo)最小（在不考慮屏蔽的情況下）。

Jake

why81yang --- 2009-04-11 09:52:48

22

跟著老大長了不少見識

紫月 --- 2009-04-11 15:24:29

23

現(xiàn)在大家都在摸索階段，很難搞啊
jizhuan501 --- 2009-05-08 12:50:42

24

leoleeson:

Differential to Common Mode Conversion主要乃用來測試STP的Insertion Loss Mismatch(衰減不匹配)

當(dāng)一對訊號線(例如為D+與D-)的訊號產(chǎn)生衰減差異或相位(Phase)差異時, SCD21就會變差.此一差異會導(dǎo)致Differential Signal(平衡式訊號)產(chǎn)生所謂的EMI效應(yīng).

要解決此一問題的最基礎(chǔ)理論就是解決STP中的D+/D-的衰減及相位差異.

從生產(chǎn)Cable的角度來說,衰減在低頻段與導(dǎo)體的損耗有關(guān),在高頻段與介質(zhì)損耗有關(guān);至於相位就與絕緣的介電係數(shù)有所關(guān)聯(lián)囉.

希望以上的解釋可以幫助你分析.

另外,當(dāng)你發(fā)現(xiàn)Differential to Common Mode Converion無法PASS(在USB3.0為-20dB)時,通常此時的Cable Intra Pair Skew也會偏大.

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Leo Lee

兩個字：“專業(yè)”！

jakezheng --- 2009-05-13 08:01:26

25

雖然不是太過了解，但還是知道了它的重要性。
jackyhoofan --- 2009-05-18 16:32:31

26

厘科在USB3.0這段跑的比較快.

hongx --- 2009-06-19 16:11:34

27

強(qiáng)大  受益良多! 學(xué)習(xí)到囉!
wwj1020 --- 2009-06-20 16:58:07

28

厲害啊，學(xué)習(xí)了

chq2006 --- 2009-06-20 22:05:55

29

以下也有這個測試介紹

http://www.--connworld.com/Newsarticle/jiadian/200941162936.htm

海天一色 --- 2009-06-21 18:32:51

30

專業(yè)機(jī)構(gòu)的人，很是專業(yè)。
nhy0201423 --- 2009-06-25 16:48:50

31

謝謝你！ 學(xué)習(xí)了。
mj14 --- 2009-11-24 17:21:57

32

個人理解:EMI與所謂的屏蔽不完全成正比.........而要與高頻還是低頻產(chǎn)生的EMI對應(yīng)選擇合適的材料

在USB3.0中.如果想通過差分-同模的測試的話.分析以為

1.控制好兩對STP的包帶.減少相互間的影響.

2選擇相對鋁基較厚的鋁箔試樣,但不宜破壞鋁基的連續(xù)性.同時也要注意包帶的緊密性.

期待好結(jié)果共同努力

試樣中

coolman --- 2010-05-31 10:53:24

33

學(xué)習(xí)了．
Timliu --- 2010-05-31 11:48:27

34

差共模轉(zhuǎn)換,學(xué)習(xí)了

dawn3l --- 2010-05-31 11:52:40

35

正在研究中...
coolman --- 2010-06-02 10:26:20

36

謝謝分享
long9590 --- 2010-06-02 14:33:33

37

選擇相對鋁基較厚的鋁箔,的確有幫助！

XIFUWANG --- 2010-06-03 16:31:56

38

3.0的現(xiàn)在有那些工廠可以過
-- 結(jié)束 --