jswjyzw --- 2009-07-28 16:33:47
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還是要請(qǐng)教明示：銅絲內(nèi)導(dǎo)體比銅包鋼內(nèi)導(dǎo)體的衰減要差一些。為什么？
szlkt --- 2009-07-28 16:52:11
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你可能理解錯(cuò)了，衰減越小越好，比如RG59衰減要小于32DB，衰減不好不僅與銅絲規(guī)格有關(guān)，還與絕緣層的材質(zhì)及外徑設(shè)計(jì)是有很大的關(guān)系的。
cuijiude --- 2009-07-28 16:59:05
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高頻部分差不多﹐低頻部分銅線會(huì)好﹐主要還是導(dǎo)體電阻的問(wèn)題。
bt3002 --- 2009-07-28 17:00:10
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按理說(shuō) 同等規(guī)格的線纜銅線一定比銅包鋼好，像上面大哥說(shuō)的一定是銅的材質(zhì)有問(wèn)題
cuijiude --- 2009-07-28 17:17:55
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不是﹐有可能你的絕緣也會(huì)有問(wèn)題﹐衰減不是單一的影響因素。
erickxiong --- 2009-07-28 21:45:20
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上位老兄說(shuō)得對(duì),多種因素可以影響衰減的,銅絲均勻,絕緣的外徑均勻,偏芯等
mardini --- 2009-07-29 08:13:28
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為什么要用銅包鋼，主要是考慮成本的節(jié)約，因?yàn)楦哳l線是用來(lái)傳輸信號(hào)，信號(hào)在導(dǎo)體表面?zhèn)鬏�，故銅和銅包鋼其實(shí)衰減都能夠滿足。
cuijiude --- 2009-07-29 08:18:51
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是的﹐信號(hào)在表面?zhèn)鬏�。使用時(shí)沒(méi)有什么大問(wèn)題。但是按照測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)要求的檢測(cè)數(shù)據(jù)可能就不會(huì)那么相同了。
jswjyzw --- 2009-07-30 10:01:06
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感謝各位的回復(fù)和指教！
我說(shuō)的情況是：內(nèi)導(dǎo)體和絕緣外徑、發(fā)泡度是一樣的情況下，銅絲的衰減比銅包鋼差（也就是衰減大），主要體現(xiàn)在高頻（800MHZ）。
樓上的朋友說(shuō)銅絲低頻比銅包鋼好，您說(shuō)的低頻是指多少。
從標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定上可以看出銅絲和銅包鋼在某些頻段的衰減是有差別的，而且應(yīng)該是銅絲應(yīng)該好些。可實(shí)際情況不一樣。
就象樓上的朋友說(shuō)的，影響衰減的因素較多，針對(duì)我的情況，我主要從兩點(diǎn)先考慮：1、銅絲的材質(zhì)；2、銅絲芯線生產(chǎn)時(shí)是過(guò)模的。表面的皂化液未清洗對(duì)衰減影響有多大。
至于樓上說(shuō)的絕緣可能有問(wèn)題能否表達(dá)具體一點(diǎn)。謝謝。
1qazxsw2 --- 2009-07-31 21:27:47
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高頻使用銅包鋼與裸銅是差不多的，是集膚效應(yīng)的原理
jswjyzw --- 2009-08-13 14:14:48
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最近回歸正常，原因不是很清楚。
123qq --- 2009-08-13 18:50:12
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yjcdd --- 2009-08-19 10:57:26
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同軸電纜衰減分為介質(zhì)衰減和導(dǎo)體衰減，要分析一下是哪一方面的原因，再根據(jù)具體原因分析解決
Zhouchiwei --- 2009-08-23 11:20:52
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和導(dǎo)體材料的導(dǎo)電率，介質(zhì)材料，編制方式有關(guān)
rats --- 2009-08-24 12:45:36
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如沒(méi)弄錯(cuò)，樓主的銅包鋼是電鍍的，衰減不好發(fā)生在6，7月份，然后恢復(fù)正常，對(duì)嗎？
生活 --- 2009-08-24 14:09:51
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這些問(wèn)題應(yīng)該與導(dǎo)體關(guān)系不大吧，制成問(wèn)題也很關(guān)鍵呢
chen0901 --- 2009-09-10 15:49:29
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不是很清楚
LigLWendy --- 2009-09-29 14:47:28
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因素太多
liugangjian --- 2009-10-22 16:39:33
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銅絲氧化了吧
kaixuan --- 2009-10-24 12:35:50
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我想大概是編織時(shí)候的模具有問(wèn)題。也有可能是發(fā)泡配方或者是板料不均勻，拉絲模具也要合理啊，網(wǎng)片也有關(guān)系的啊。。要貼銅網(wǎng)片，，
bsdtdw --- 2009-10-30 09:20:31
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估計(jì)是那幾批銅線本身的問(wèn)題，拉絲表面不光滑。在高頻測(cè)試時(shí)衰減容易出問(wèn)題。