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有關(guān)TDR測試特性阻抗的疑問，請專家指點(diǎn)。 - 無圖版
ks638 --- 2010-10-13 15:37:58
1
通常用TDR測試差分阻抗的時候，時間坐標(biāo)越往后阻抗就越高。不知是哪些因素造成的這種現(xiàn)象。（聽朋友說有一份專門講這個的論文。如誰有，希望能共享下，不甚感激）。
下圖，由于線短，所以阻抗高的不是很明顯，抱歉。
ks638 --- 2010-10-13 15:53:59
2
TDR的本底噪聲是否有一定的影響。
說到TDR我在這傳一份有關(guān)TDR應(yīng)用中常見的問題，和大家一起分享。（由于本人沒金幣象征性的收點(diǎn)）
10686929 --- 2010-10-13 17:40:20
3
這上面有沒有高頻專家�。� 分享一下給兄弟們
albert0829 --- 2010-10-15 08:06:54
4
期待高手解惑
xufeng --- 2010-10-15 17:07:38
5
就線材本身結(jié)構(gòu)而言，就會有這個特點(diǎn)的存在！你換另外一種角度想想！假定你是用NA測試的話越高頻的地方衰減會越大，阻抗也會隨著頻率的增高而增大，所以不管是什么線材的阻抗會有一定的公差范圍。你是沒有辦法做到?jīng)]有公差的!你只可以做到公差做得你能做到最小就不錯了！（記�。┰礁哳l的地方反射會越大）！�。�
ks638 --- 2010-10-20 09:57:11
6
謝謝，5樓你的解答。你說的我明白，可是具體有哪些因素產(chǎn)生的呢？是否可以通過什么方式去改善？（比如：標(biāo)準(zhǔn)線就可以做的很好）
［ks638 在 2010-10-20 9:58:33 編輯過］
Jupiter --- 2010-10-26 15:59:31
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wangxingnc --- 2010-10-27 11:40:33
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1) 線材樣品的電阻累積﹕電阻有累積效應(yīng)﹐DUT越長﹐累積效應(yīng)會越明顯﹔
2) 測量方式﹕很多時候?yàn)榉奖銣y試﹐在測試阻抗時﹐我們都喜歡采用DUT終端OPEN的方式進(jìn)行測量﹐而OPEN端阻抗理論上是無窮大﹐從而無形中也會將測試曲線尾端拉升﹔如采用終端LOAD方式﹐有可效地減少這種終端拉伸效應(yīng)﹐從而減小測試誤差。
謝謝
felixwang --- 2011-11-23 09:41:07
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金幣一下子就沒有了
Xcable9119 --- 2011-11-23 15:56:10
10
不用太糾結(jié)這個問題，現(xiàn)在測試阻抗都是測試線材前端的一小部分，很少有測試整條線的。
說白了就是能量損失造成的，TDR是發(fā)出幾百毫伏的電壓脈沖信號來實(shí)現(xiàn)測試的，電壓信號從近端走到遠(yuǎn)端是有損失的，阻抗計(jì)算過程可不管你信號的損失，所以阻抗的曲線是越來越往上偏的。
yan --- 2011-11-23 17:32:39
11
lange --- 2011-11-23 23:28:11
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albert0829 --- 2011-11-24 07:57:41
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sjj3112412 --- 2012-04-19 14:50:19
14
學(xué)習(xí)中