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8.1絕緣厚度的測(cè)量
絕緣厚度的測(cè)量可以作為一項(xiàng)單獨(dú)的試驗(yàn)。也可以作為其它試驗(yàn)如機(jī)械性能試驗(yàn)過程中的一個(gè)步驟。
在所有情況下，取樣方法均應(yīng)讀符合有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。
讀數(shù)顯微鏡或放大倍數(shù)至少10倍的投影儀，兩種裝置讀數(shù)均至
有爭(zhēng)議時(shí)，應(yīng)采用讀數(shù)顯微鏡測(cè)量作為基準(zhǔn)方法。
從絕緣上去除所有護(hù)層，抽出導(dǎo)體和隔離層（若有的話）。小心操作以免損壞絕緣，內(nèi)外半導(dǎo)電層若與絕緣粘連在一起，則不必去掉。
每一試件由一絕緣薄片組成。應(yīng)用適當(dāng)?shù)墓ぞ撸ㄤh利的刀片如剃刀刀片等）沿著與導(dǎo)體軸線相垂直的平面切取薄片。
無護(hù)套扁平軟線的線芯不分開。
如果絕緣上有壓印標(biāo)記 凹痕，則會(huì)使該處厚度變薄，因此試件應(yīng)取包含該標(biāo)記的一段。
將試件置于測(cè)量裝置的工作面上，切割面與光軸垂直。
a) 當(dāng)試件內(nèi)側(cè)為圓形時(shí)，應(yīng)按圖1徑向測(cè)量6點(diǎn)如是扇形絕緣線芯，則按圖2測(cè)量6點(diǎn)。
b) 當(dāng)絕緣是從絞合導(dǎo)體上載取時(shí)，應(yīng)按圖3和圖4徑向測(cè)量 6點(diǎn)。
c) 當(dāng)試件外表面凹 凸不平時(shí)，應(yīng)按圖3和圖4徑向測(cè)量6點(diǎn)。
d) 當(dāng)絕緣內(nèi)外均有不可去除的屏蔽層時(shí)，屏蔽層厚度應(yīng)從測(cè)量值中減去，當(dāng)不透明絕緣內(nèi)外均有不可除去的屏蔽層時(shí)，應(yīng)使用讀數(shù)顯微鏡測(cè)量。
e) 無護(hù)套扁平軟線應(yīng)按圖6測(cè)量。兩導(dǎo)體之間最短距離的一半作為絕緣線芯的絕緣厚度。在任何情況下，第一次測(cè)量應(yīng)在絕緣最薄處進(jìn)行。
如果絕緣試件包括壓印標(biāo)記凹痕，則該處絕緣厚度不應(yīng)用來計(jì)算平均厚度。但在任何情況下，壓印標(biāo)記凹痕處的絕緣厚度應(yīng)符合有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的最小值。
若規(guī)定的絕緣厚度為
8.15 測(cè)量結(jié)果的評(píng)定
測(cè)量結(jié)果應(yīng)按有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中試驗(yàn)，要求規(guī)定進(jìn)行 評(píng)定。
進(jìn)行機(jī)械性能試驗(yàn)時(shí)，每人試件厚度的平均值＆（見
護(hù)套厚度的測(cè)量可以作為一項(xiàng)單獨(dú)的試驗(yàn)，也可以作為其它試驗(yàn)如機(jī)械性能試驗(yàn)過程中的步驟，本試驗(yàn)方法也適用于其他有規(guī)定厚度的護(hù)套測(cè)量，例如隔離套和外護(hù)套。
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機(jī)械性能試驗(yàn)過程中的一個(gè)步驟，本試驗(yàn)方法也適用于其他有規(guī)定厚度的護(hù)套的測(cè)量，例如隔離套和外護(hù)套。
在所有情況下，取樣方法均符合有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。
（
去除護(hù)套內(nèi)外所有元件（若有話）用一適當(dāng)?shù)墓ぞ撸ㄤh利的刀片如剃刀刀片等）沿垂直于電纜軸線的平面切取薄片。
如果護(hù)套有壓印標(biāo)記凹痕，則會(huì)使該處厚度變薄因此試件應(yīng)取包含該標(biāo)記的一段。
將試件置于測(cè)量裝置工作面上，切割面與光軸垂直。
a) 當(dāng)試件內(nèi)側(cè)為圓形時(shí)，應(yīng)按圖1徑向測(cè)量6點(diǎn)。
b) 如查試件內(nèi)測(cè)為圓表面實(shí)質(zhì)上是不規(guī)整或不光滑的，則應(yīng)按圖7在護(hù)套最薄處徑向測(cè)量6點(diǎn)。
c) 當(dāng)試件的內(nèi)側(cè)有導(dǎo)體造成很深的凹槽時(shí)，應(yīng)按圖8在每個(gè)凹槽底部徑向測(cè)量。
當(dāng)凹槽數(shù)目超過6個(gè)時(shí)，應(yīng)按b）條進(jìn)行 測(cè)量。
d) 當(dāng)因刮膠帶或肋條形護(hù)套外形引起的護(hù)套外表面不規(guī)整時(shí)，應(yīng)按圖9進(jìn)行 測(cè)量。
e) 對(duì)于的護(hù)套的扁平軟線，應(yīng)按圖10在與每個(gè)絕緣線芯截面的短軸大致平行的方向及長軸上分別測(cè)量。但無論如何應(yīng)在最薄處測(cè)量一點(diǎn)。
f) 六芯及以下有護(hù)套的扁平軟線，應(yīng)按圖11進(jìn)行測(cè)量：
一在圓弧形頭沿著橫截面的長軸進(jìn)行測(cè)量一點(diǎn)。
一在扁平的兩邊，在第一根和最后一根絕緣線芯上測(cè)量;如果最薄厚度下在上述幾次測(cè)量值中，側(cè)應(yīng)增加最薄處及其對(duì)面方向上厚度的測(cè)量。
在任何情況下，必須有一次測(cè)量在護(hù)套最薄處進(jìn)行。
如果護(hù)套試樣包括壓印標(biāo)記凹痕，則該處厚度不應(yīng)用來計(jì)算平均厚度。但在任何情況下，壓印標(biāo)記凹痕處的護(hù)套厚度應(yīng)符合有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的最小值。
讀數(shù)到小數(shù)點(diǎn)后兩位（以mm計(jì)）。
測(cè)量結(jié)果應(yīng)按有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中試驗(yàn)要求的規(guī)定進(jìn)行評(píng)定。
進(jìn)行機(jī)械性能試驗(yàn)時(shí)，每個(gè)試件的厚度平均值&（
8.3外形尺寸測(cè)量
線芯絕緣外徑和護(hù)套外徑的測(cè)量可作為一項(xiàng)單獨(dú)的試驗(yàn)，亦可作為其它試驗(yàn)過程中的一步驟。除非特殊試驗(yàn)程序規(guī)定了不同的或替代的方法，下面
在所有情況下，取樣方法均符合有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定 。
a） 軟線和電纜的外徑不超過25mm時(shí)，用測(cè)微計(jì)、投影儀或類似的儀器在互相垂直的兩個(gè)方向上分別測(cè)量。
例行試驗(yàn)允許用刻度千分尺或游標(biāo)卡尺測(cè)量，測(cè)量時(shí)應(yīng)盡量減小接觸壓力。
b)軟線和電纜的外徑超過
c)扁平軟線和電纜應(yīng)使用測(cè)量微計(jì)，投影儀或類似的儀器沿著橫截面的長軸和短軸進(jìn)行 測(cè)量。除非的關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中另有規(guī)定，尺寸為
測(cè)量結(jié)果應(yīng)按有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中試驗(yàn)要求的規(guī)定進(jìn)行評(píng)定。
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都是標(biāo)準(zhǔn)上的東西，要必要發(fā)上來嗎？如果是自己實(shí)際工作中的心得總結(jié)發(fā)上來或者對(duì)標(biāo)準(zhǔn)的理解，或許對(duì)大家都有點(diǎn)用處，這些東西哪個(gè)電纜廠沒有？
誰沒有？舉手
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完全同意樓上觀點(diǎn),何必占用論壇空間,有能力發(fā)點(diǎn)原創(chuàng)上來讓大家學(xué)習(xí)學(xué)習(xí).
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標(biāo)準(zhǔn)只是定性文件, 再說現(xiàn)在很多標(biāo)準(zhǔn)都是年代久遠(yuǎn), 該更新的也沒到位, 所以說光有標(biāo)準(zhǔn)是不行的
關(guān)鍵是自己怎么做的 有沒有道理 學(xué)到了多少??
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標(biāo)準(zhǔn)里面都有..點(diǎn)經(jīng)驗(yàn)價(jià)值都沒有
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每個(gè)人都有自己的經(jīng)驗(yàn)方法,對(duì)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容的理解領(lǐng)悟不一樣,方法也就不一樣了,主要還是針對(duì)標(biāo)準(zhǔn)看吧
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我們做低壓電纜的，
我的標(biāo)準(zhǔn)就是截面大的薄一點(diǎn)，截面小的帶鋼帶，厚一點(diǎn)．
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我沒有 現(xiàn)在我就為這個(gè)發(fā)愁呢 這位大俠能否告知一二 或是大俠發(fā)發(fā)善心吧資料 發(fā)的我的郵箱上 gtdh@163.com 謝謝
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抄標(biāo)準(zhǔn)有什么意思呀...