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根據(jù)屏蔽層材料的固有特性，屏蔽層材料的電阻與溫度有很大關(guān)系，測試過程中電纜屏蔽層溫度的不確定性是導(dǎo)致試驗結(jié)果的不確定的重要原因之一。為了能夠定量分析電纜中半導(dǎo)電屏蔽層電阻隨溫度和時間變化的過程，本文分別研究了國內(nèi)外不同半導(dǎo)電屏蔽料生產(chǎn)的電纜樣品屏蔽層電阻與溫度的關(guān)系，以及在恒定溫度下（90 ℃）屏蔽層電阻與時間的關(guān)系，為完善IEC標(biāo)準(zhǔn)和國家標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于半導(dǎo)電屏蔽層電阻率的測試方法奠定基礎(chǔ)。
通過試驗和分析。對電纜半導(dǎo)電屏蔽電阻率試驗提出建議：
1．試驗過程中用熱電偶直接測量電纜屏蔽層的溫度。 2．建議關(guān)注電纜屏蔽溫度自室溫升至90 ℃及在90 ℃下恒定 30 min這一段時間的屏蔽．電阻的變化。對試驗結(jié)果的選取，建議從嚴(yán)要求，取這一段時間的屏蔽電阻的最大值。 3．對屏蔽層的電阻最高點不在90 ℃的電纜，希望半導(dǎo)電材料制造商和電纜制造商共同努力，使電纜的屏蔽層在90℃及以下的溫度范圍內(nèi)都能滿足標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的要求。 |